明茲精密儀器（上海）有限公司

成像精确、操作舒适的(de)科研級金相顯微鏡

NM910專爲材料科學探究設計，能夠滿足各種金屬材料、非金屬材料、地質材料表面鏡檢、篩選及科研需求。機械結構穩定、緊湊，人(rén)體工學設計，布局合理(lǐ)，使用(yòng)舒适，能在自然的(de)姿勢下(xià)進行顯微鏡操作。采用(yòng)經過多(duō)年研究和(hé)不斷改良的(de)無限遠(yuǎn)光(guāng)學系統，具有工作距離長(cháng)，色彩還(hái)原度高(gāo)，成像精确等光(guāng)學品質，成像可(kě)靠，提供高(gāo)對(duì)比，清晰明(míng)亮的(de)圖像。NM910顯微鏡采用(yòng)模塊化(huà)設計，實現明(míng)場(chǎng)、暗場(chǎng)、微分(fēn)幹涉、熒光(guāng)、偏光(guāng)等觀測方法。是半導體器件、FPD、電子器件、材料、精密模具制造的(de)質控和(hé)研究的(de)理(lǐ)想工具。
顯微成像效果優秀
NM900采用(yòng)無限遠(yuǎn)光(guāng)學系統。視場(chǎng)均勻，明(míng)亮，色彩還(hái)原度高(gāo)。适合觀察半導體等工業樣本。
大(dà)視場(chǎng)範圍目鏡
NM900采用(yòng)視場(chǎng)範圍25mm的(de)大(dà)視場(chǎng)目鏡，視野更大(dà)，觀察内容更全面，樣本觀察更快(kuài)速。對(duì)于需要全景視圖的(de)樣本，擁有大(dà)視場(chǎng)範圍的(de)顯微鏡是更爲正确的(de)選擇。
柯勒照(zhào)明(míng)
顯微照(zhào)明(míng)系統--柯勒照(zhào)明(míng)，提供明(míng)亮均勻的(de)視場(chǎng)。配合無限遠(yuǎn)光(guāng)學系統和(hé)高(gāo)數值孔徑和(hé)高(gāo)工作距離的(de)物(wù)鏡，給您提供完美(měi)的(de)顯微成像。
系列物(wù)鏡

通(tōng)過使用(yòng)精心挑選的(de)高(gāo)透玻璃和(hé)高(gāo)級塗層技術，确保了(le)色彩的(de)精确還(hái)原。同時(shí)對(duì)于各種使用(yòng)需要，有多(duō)種物(wù)鏡可(kě)供選擇，包括高(gāo)分(fēn)辨率、偏振光(guāng)和(hé)超長(cháng)工作距離物(wù)鏡。

人(rén)體工學設計，舒适的(de)操作體驗
NM900提供光(guāng)學性能與舒适的(de)操作體驗，是廣大(dà)科研工作者值得(de)信賴的(de)科研夥伴。采用(yòng)科研級顯微鏡主流的(de)光(guāng)學系統——無限遠(yuǎn)光(guāng)學系統，使多(duō)種觀察方法的(de)實現成爲可(kě)能。而且完美(měi)的(de)柯勒照(zhào)明(míng)爲顯微鏡提供明(míng)亮而均勻的(de)視場(chǎng)。在此基礎上，不斷優化(huà)客戶産品使用(yòng)體驗，符合人(rén)體工學設計，使觀察與操作都可(kě)以保持舒适的(de)姿勢。
ECO節能

操作者離開超過30分(fēn)鐘(zhōng)後，顯微鏡會自動關閉透射光(guāng)源。節能開關即可(kě)節約能源，又保護了(le)光(guāng)源，增加光(guāng)源使用(yòng)壽命。

可(kě)變傾角三目觀察頭

可(kě)調節傾斜角度的(de)觀察頭，可(kě)以在更舒适的(de)姿勢下(xià)進行操作。限度的(de)減少長(cháng)時(shí)間工作帶來(lái)的(de)肌肉緊張與不适。

左/右手位操作互換機構及低手位操作系統

爲了(le)更好的(de)适應不同操作習(xí)慣的(de)使用(yòng)者，調焦和(hé)載物(wù)台可(kě)方便的(de)調整爲左手或右手位進行操作。并且調焦手輪和(hé)載物(wù)台移動平台處于低手位，操作更加舒适，減少使用(yòng)疲勞。

光(guāng)強管理(lǐ)功能（選配）

在轉換不同倍率的(de)物(wù)鏡時(shí)，需要對(duì)光(guāng)照(zhào)強度進行調整，以保證不同放大(dà)倍數下(xià)視野内光(guāng)照(zhào)亮度相同。NM910能夠智能記憶不同放大(dà)倍數下(xià)的(de)适宜光(guāng)照(zhào)強度，跟随物(wù)鏡放大(dà)倍數改變而自動調節，減少視疲勞。本功能适用(yòng)于下(xià)光(guāng)源。

模塊化(huà)設計，可(kě)實現多(duō)種觀察方式
NM910顯微鏡采用(yòng)模塊化(huà)設計，實現明(míng)場(chǎng)、暗場(chǎng)、微分(fēn)幹涉、熒光(guāng)、偏光(guāng)等觀測方法。爲建築、材料分(fēn)析、半導體生産和(hé)檢測等工業領域提供顯微成像及數據分(fēn)析支持。