明茲精密儀器（上海）有限公司

奧林(lín)巴斯GX53倒置顯微鏡使用(yòng)範圍非常廣，常見于鋼鐵、汽車、電子及其它制造行業。僅僅将打磨後的(de)金屬及截面試樣倒置于顯微鏡鏡台上，用(yòng)戶就可(kě)對(duì)試樣進行檢驗。樣本不需要放平，也(yě)可(kě)以觀察較厚、較大(dà)、較重樣品。
奧林(lín)巴斯GX53給出的(de)清晰圖像，采用(yòng)傳統顯微鏡觀察方法則難以捕捉到。與 OLYMPUS 流圖像分(fēn)析軟件相結合，顯微鏡簡化(huà)了(le)從觀察到圖像分(fēn)析和(hé)報告的(de)檢驗過程。
先進的(de)分(fēn)析工具。
奧林(lín)巴斯GX53顯微鏡的(de)各種觀察性能提供清晰的(de)圖像，所以用(yòng)戶可(kě)對(duì)試樣進行可(kě)靠的(de)缺陷檢測。OLYMPUS圖像分(fēn)析軟件的(de)新型照(zhào)明(míng)技術和(hé)圖像采集選項爲用(yòng)戶評估試樣和(hé)記錄檢驗結果提供了(le)更多(duō)的(de)選擇。
不可(kě)見變爲可(kě)見：混合技術

通(tōng)過将暗視野及其它觀察方法如明(míng)視野或偏光(guāng)結合起來(lái)，混合技術可(kě)以生成獨特的(de)觀察圖像。混合技術可(kě)使用(yòng)戶觀察到使用(yòng)傳統顯微鏡難以看到的(de)試樣，甚至展示出試樣表面上的(de)更小高(gāo)度差。用(yòng)于暗視野觀察的(de)圓形 LED 照(zhào)明(míng)器有一個(gè)定向暗視野功能，可(kě)以在給定時(shí)間内照(zhào)明(míng)一個(gè)或多(duō)個(gè)象限。這(zhè)就減少了(le)試樣的(de)暈光(guāng)，并有助于将其表面紋理(lǐ)可(kě)視化(huà)。

強調用(yòng)戶舒适度的(de)設計
顯微鏡的(de)人(rén)體工學設計使得(de)用(yòng)戶的(de)工作體驗更佳舒适，以進行更有效的(de)檢查。當與OLYMPUS stream軟件配合使用(yòng)時(shí)，操作員(yuán)可(kě)以輕松獲取不同試樣的(de)圖像，進行各種分(fēn)析，并生成專業報告。

輕松切換觀察方法
顯微鏡支持明(míng)視野、暗視野、鑒别幹涉對(duì)比（DIC）以及簡單的(de)偏振光(guāng)觀察。
使用(yòng)專用(yòng)操縱杆在明(míng)視野和(hé)暗視野之間快(kuài)速切換。
增加 DIC僅需要增加一個(gè)滑塊。

豐富配件選擇
濾光(guāng)片将試樣曝光(guāng)光(guāng)線轉化(huà)爲各種類型的(de)照(zhào)明(míng)。根據您的(de)觀察需求選擇合适的(de)濾光(guāng)片。

顯微組織中的(de)晶粒尺寸測量晶粒尺寸和(hé)分(fēn)析鋁、鐵素體和(hé)奧氏體等鋼的(de)晶體結構以及其他(tā)金屬的(de)顯微組織。支持标準：ISO, GOST, ASTM, DIN, JIS,  GB/T鐵素體晶粒的(de)顯微組織

晶粒度截線法解決方案 第二相的(de)晶粒度面積法解決方案
顆粒分(fēn)析 – 計數和(hé)測量解決方案

計數和(hé)測量解決方案使用(yòng)高(gāo)級阈值法，能夠可(kě)靠地分(fēn)離目标（如顆粒和(hé)劃痕）與背景。可(kě)使用(yòng)超過50種不同的(de)參數對(duì)樣品進行測量或評級，包括形狀、大(dà)小、位置和(hé)像素特性等。

常規軟件晶界不清晰
                                                           

侵蝕後 的(de)鋼的(de)顯微組織（原始圖像）

奧林(lín)巴斯Stream晶界清晰可(kě)辨

評估石墨球化(huà)率評估鑄鐵樣品（球墨/蠕墨）的(de)石墨球化(huà)率及含量。對(duì)石墨節點的(de)形态、分(fēn)布和(hé)大(dà)小歸類。支持标準：ISO、NF、ASTM、KS、JIS、GB/T顯示球狀石墨結構的(de)延性鑄鐵